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第一讲电子光学基础。
1、电子显微分析特点。
2、airy斑概念。
3、rayleigh准则。
4、光学显微镜极限分辨率大小：半波长，200nm5、电子波的速度、波长推导公式。
6、光学显微镜和电子显微镜的不同之处：光源不同、透镜不同、环境不同。
7、电磁透镜的像差产生原因，如何消除和减少像差。
8、影响光学显微镜和电磁透镜分辨率的关键因素，如何提高电磁透镜的分辨率。
9、电子波的特征，与可见光的异同。
第二讲tem
1、tem的基本构造。
2、tem中实现电子显微成像模式与电子衍射模式操作。
第三讲电子衍射。
1、电子衍射的基本公式推导过程。
2、衍射花样的分类：斑点花样、菊池线花样、会聚束花样。
3、透射电子显微镜图像衬度，各自的成像原理。
第四讲tem制样。
1、粉末样品制备步骤。
2、块状样品制备减薄的方法。
3、块状脆性样品制备减薄——离子减薄。
4、塑料样品制备——离子减薄。
5、复型的概念、分类。
第五讲sem
1、电子束入射固体样品表面会激发的信号、特点和用途。
2、sem工作原理。
3、sem的组成。
4、sem的成像衬度：二次电子表面形貌衬度、背散射电子原子序数衬度、吸收电子像的。
衬度、x射线图像的衬度。
第六讲eds和wds
1、eds探测系统——锂漂移硅固体探测器。
2、eds与wds的优缺点。
第七讲ebsd
1、ebsd的应用。
第八讲其它电子显微分析方法。
1、各种设备的缩写形式。